新宝GG

ESI Allegro XP是专为多层陶瓷电容器（MLCC）造作商设计的高通量电气测试系统，出格合用于出产大尺寸、高电压电容，宽泛利用于汽车、物联网、手持设备及商用通讯设备等领域。

重要特点

高压测试能力：支持最高1kV的电气测试，满足新一代高压芯片的测试需要。

低冲击芯片处置技术：选取ESI专利的低冲击旋转式芯片传送技术，有效降低测试过程中的芯片损感冒险。

超高速测试：测试速度高达每分钟16,666颗（每幼时100万颗），大幅提升出产效能。

宽泛电容支持：支持120 Hz / 1 kHz / 1 MHz测试频率，覆盖全系列MLCC尺寸。

柔性接触技术：专利脉冲驱动接触技术，最幼化端子印记，维持接触不变性。

支持元件尺寸

0603 (1608 metric)

0805 (2012 metric)

1206 (3216 metric)

1210 (3225 metric)

测试职能

电容 & DF（120Hz、1kHz、1MHz）

IR 预充电、预浸泡、电流丈量

100% 数据采集（可。

根基参数

产量：最高16,666颗/分钟（100万颗/幼时）

测试电压：2V – 600V（尺度），可选最高1,000V

充电电流：2mA – 250mA（尺度），可选2mA – 90mA（高压；ぃ

丈量电流：1pA – 2mA，可选18mA

分选仓：最多9个（含容差、废品、复测仓）

节造系统：多核处置器、触控屏、网络节造（可。

ESI Allegro XP MLCC测试分选机规格书.pdf